图像列固定模式噪声校正方法、装置和介质-k66凯时

申请/专利权人：上海微阱电子科技有限公司

申请日：2023-11-30

公开（公告）日：2024-03-08

公开（公告）号：cn117676357a

主分类号：h04n25/677

分类号：h04n25/677

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.03.08#公开

摘要：本发明公开一种图像列固定模式噪声校正方法、装置和介质，该方法用以校正列固定模式噪声，包括：获取待处理图像的像素值；以及计算待处理图像中每列像素的像素均值；计算每列像素均值与首列像素均值之间的差值，将最大差值对应的一列像素判定为参考列固定模式噪声；获取针对同一拍摄对象在不同饱和程度下曝光生成的n组图像，以及针对任意一组图像，计算对应的饱和程度下的噪点阈值；当待处理图像中像素点的像素值小于某一饱和程度下的噪点阈值时，判定像素点为对应饱和程度下的列固定模式噪声，并标定噪点位置；将参考列固定模式噪声和对应饱和程度下的列固定模式噪声之间的噪点位置进行比对，得到待处理图像的目标列固定模式噪声并进行补偿得到校正后的图像。

主权项：1.一种图像列固定模式噪声校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取待处理图像的像素值；以及计算所述待处理图像中每列像素的像素均值；计算每列像素均值与首列像素均值之间的差值，将最大差值对应的一列像素判定为参考列固定模式噪声；获取针对同一拍摄对象在不同饱和程度下曝光生成的n组图像，其中，每组图像对应一种饱和程度；以及针对任意一组图像，计算对应饱和程度下的噪点阈值；当所述待处理图像中像素点的像素值小于某一饱和程度下的噪点阈值时，判定所述像素点为对应饱和程度下的列固定模式噪声，并标定噪点位置；将所述参考列固定模式噪声和对应饱和程度下的列固定模式噪声之间的噪点位置进行比对，得到所述待处理图像的目标列固定模式噪声；对所述待处理图像的目标列固定模式噪声进行补偿，得到校正后的图像。

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