检测设备-k66凯时

申请/专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司

申请日：2022-08-22

公开（公告）日：2024-03-08

公开（公告）号：cn117664993a

主分类号：g01n21/89

分类号：g01n21/89;g01n21/01;g01b11/06;g01b11/04;g01b11/00

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.03.08#公开

摘要：本申请公开一种检测设备，包括：机台；可转动地设置于机台上的第一料盘，第一料盘上设置有若干用于承载待测产品的第一工装；环绕第一料盘布置的第一相机组件和第二相机组件，第一相机组件用于待测产品的镭射检测和高度检测，第二相机组件用于待测产品的外表面缺陷检测；可转动地设置于机台上的第二料盘，第二料盘上设置有若干用于承载待测产品的第二工装；以及，环绕第二料盘布置的第三相机组件、第四相机组件和第五相机组件，第三相机组件用于待测产品的下端面缺陷检测；第四相机组件用于待测产品的内表面缺陷检测；第五相机组件用于待测产品的上端面缺陷检测和长宽检测，可以快速、准确地对待测产品进行全面检测，满足现代化生产需求。

主权项：1.一种检测设备，包括：机台；可转动地设置于所述机台上的第一料盘，所述第一料盘上设置有若干第一工装，每一所述第一工装用于承载一待测产品；环绕所述第一料盘布置的第一相机组件和第二相机组件，所述第一相机组件用于待测产品的镭射检测和高度检测，所述第二相机组件用于待测产品的外表面缺陷检测；可转动地设置于所述机台上的第二料盘，所述第二料盘上设置有若干第二工装，每一所述第二工装用于承载一待测产品；以及环绕所述第二料盘布置的第三相机组件、第四相机组件和第五相机组件，所述第三相机组件用于待测产品的下端面缺陷检测；所述第四相机组件用于待测产品的内表面缺陷检测；所述第五相机组件用于待测产品的上端面缺陷检测和长宽检测。

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